Э. М. Карташов, Б. Цой, В. В. Шевелев

Отображение единственного товара

  • Разрушение пленок и волокон: Структурно-статистические аспекты

    Разрушение пленок и волокон: Структурно-статистические аспекты

    Э. М. Карташов, Б. Цой, В. В. Шевелев 678