Мир Физики и техники. Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении. Под ред. Шварца А. и др.

Вес 42.3 г
Габариты 8.5 × 5.7 × 1.0 см
handling_time

14 days

ISBN

978-5-94836-385-1

EAN

9785948363851

Формат

70×100/16

Издательство

Серия

Переплет

Автор

Стандарт

3

Дата получения

26.06.2014

Год выпуска

Количество страниц

SKU

189456

Формат, мм\см

170×240

Язык

Тип издания

Отдельное издание

Тираж

352 
icon

* в связи с отменой регулярного авиасообщения срок доставки может быть дольше обычного

Описание

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.

Книги, изданные в Израиле