Инженерные основы измерений нанометровой точности (пер. с англ.)

Вес 19.4 г
Габариты 8.5 × 5.7 × 1.0 см
handling_time

14 days

ISBN

978-5-91559-119-5

EAN

9785915591195

Формат

60×90/16

Издательство

Переплет

Автор

Стандарт

10

Год выпуска

Количество страниц

SKU

168397

Формат, мм\см

145×215

Язык

Иллюстраторы

Тип издания

Отдельное издание

Тираж

453 
icon

* в связи с отменой регулярного авиасообщения срок доставки может быть дольше обычного

Описание

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Книги, изданные в Израиле